EL
- 电路板故障红外热分析系统
介绍
许多电路板的缺陷,不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测,以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷。例如以下的这些缺陷:
- 电源对地短路和低电阻短路
- 过压和边缘组件
- 有缺陷的BGA,VOC(压控振荡器)和去耦电容等
- 散热器失效
技术人员和工程师可能需要花很多时间去调试检测和测试电路板,而大多因为无法找出缺陷而只能选择报废。EL电路板故障诊断系统提供了一个可以定位这些缺陷的检测方法,使其成为常规分析检测方法之外的另一种选择。填补了常规检测和诊断技术之间的空白。
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EL是一种有效的和经济的工具,它可以降低检测成本和减少废料。对有故障的缺陷板进行初次筛查时,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。
OPTOTHERM PCBA FA DETECT
待测电路板 分析结果
故障诊断软件工具
- 热点探测定位短路位置
- 与正常电路板比较,来解决更复杂的缺陷问题
- 红外-可见光点对点融合叠加准确定位电路板上的缺陷
应用
产线返工
大量时间都花在测试从产线上退回来的板。技术人员使用从ICT,FCT等其他设备来识别缺陷,但往往很少能找出缺陷。缺陷的构成在制造中过程与在生产线的末端有太大的不同。在此阶段,大多数缺陷通常由电源对地短路和缺陷器件造成的。EL检测这些测缺陷板时,已经证明通常超过75%的检出率。当用EL作为有缺陷的电路板初次筛查,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。
返厂维修
当电路板有具体不良现象从使用端退回来。很多时候,技术人员很少或不知道从哪里开始进行失效分析。 EL可以提供非常有用的信息,让技术人员来缩小他们的搜索范围,锁定在只有几个可疑组件的小区域内。
废品回收
EL常用于PCBA回收。报废的PCBA价值可以达到数百万美元,他们的恢复可以带来直接和可观的经济利益。 EL通常使OEM和供应商得以挽救他们的50%以上的报废品。在这样的情况下,投资回收期可缩短至2至3个月。
功能验证
EL可以用做电路板的基本功能测试。虽然EL不能提供电路板功能测试仪那样的详细的功能测试,但它可以提供基本的功能验证。与传统的功能测试仪相比,EL具有成本低和快速配置等优点。没有定制的硬件要求,可以在1小时内配置完成。当一台专业的功能测试仪的成本太高而难以承受时,EL是理想的选择。
优化设计
因为增加的布局和功率密度,热成像已成为在设计过程中的重要工具。 EL辅助电路板布局设计,帮助他们获取和分析原型电路板和元件的温度分布是否合理。热管理问题可以在生产开始之前在设计阶段就解决,最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。此外,通过形成一个开发板和元器件的热分布历史数据,设计人员在设计阶段就可以合理布局以实现热合理分布。
在线筛选
EL可以在生产线上的产品进行筛选,以找出常规测试方法无法检测的缺陷。过压器件可以通过ICT和FCT检测,却在该产品使用的早期就失效,因而存在可靠性隐患。许多时候,这些组件的升温速度比正常的要快,通过EL检测在它们出厂之前就能被发现。通过在生产线的末端使用EL,许多这些缺陷可以在它们到达废料堆之前就确定。
故障检测模式
- 夹层、隐藏的电阻短路
- 器件故障
- 过压器件
- 潜在缺陷
- 散热片和芯片连接问题
特点
- 很短的配置时间
- 无需编程或定制工具
优点
- 更完整的故障覆盖率
- 通过筛选潜在缺陷提高产品可靠性
- 较高的投资回报率
- 大大降低废板
- 缩短返修周期
- 提高生产线的良率和产品
- 提高工艺质量