Optotherm Sentris Thermal Emission Microscope System

Optotherm Sentris Thermal Emission microscopy system Detail Next--LOCK IN THERMOGRAPHY Optotherm Sentris热发射显微镜系统 如何定位器件级失效的具体位置? Lock-in Thermography! 让失效分析变得更简单! Next -APPLICATION ROOM 温度分辨率:0.001℃ 几何分辨率:5μm 热点最小耗散功率100μW 可定位X、Y、Z轴方向 简介 Optotherm 是一家成立于美国宾夕法尼亚洲的红外热成像镜头及红外显微系统的创新设计和制造公司,其拥有十多年的红外热成像显微系统的生产和校准经验,可以极大的确保其红外热成像系统的最高质量和性能,Optotherm 专注于电子、半导体、MEMS等领域使用的微观红外热成像系统,Optotherm设计优化的微观透镜,具有非常高的空间分辨率,测量灵敏度和理想的的工作距离, 核心系统软件是其自主开发的,提供直观的用户界面,以及强大的功能。 ☎:4009-662-331 Leaderwe是一家专注于电子、半导体、材料等领域的分析检测设备供应的技术型公司,与Optotherm的合作始于2014年,并联合在深圳设立应用实验室,负责中国区的销售推广,技术支持,服务演示等相关工作。 📪:info@leaderwe.com var htmlDiv = document.getElementById("rs-plugin-settings-inline-css"); var htmlDivCss=""; if(htmlDiv) { htmlDiv.innerHTML = htmlDiv.innerHTML + htmlDivCss; }else{ var htmlDiv = document.createElement("div"); htmlDiv.innerHTML = "" + htmlDivCss +…

Optotherm EL Thermal Emission System

EL Thermal Imaging System for Circuit Board Troubleshooting 介绍 许多电路板的缺陷,不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测,以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷。例如以下的这些缺陷: 电源对地短路和低电阻短路 过压和边缘组件 有缺陷的BGA,VOC(压控振荡器)和去耦电容等 散热器失效 技术人员和工程师可能需要花很多时间去调试检测和测试电路板,而大多因为无法找出缺陷而只能选择报废。EL电路板故障诊断系统提供了一个可以定位这些缺陷的检测方法,使其成为常规分析检测方法之外的另一种选择。填补了常规检测和诊断技术之间的空白。 关于Optotherm相关产品在http://www.leaderwe.com/optotherm/有详细的描述,另建有应用实验室,欢迎大家送样测试。 EL是一种有效的和经济的工具,它可以降低检测成本和减少废料。对有故障的缺陷板进行初次筛查时,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。 OPTOTHERM PCBA FA DETECT  待测电路板                                                分析结果   故障诊断软件工具 热点探测定位短路位置 与正常电路板比较,来解决更复杂的缺陷问题 红外-可见光点对点融合叠加准确定位电路板上的缺陷 应用 产线返工 大量时间都花在测试从产线上退回来的板。技术人员使用从ICT,FCT等其他设备来识别缺陷,但往往很少能找出缺陷。缺陷的构成在制造中过程与在生产线的末端有太大的不同。在此阶段,大多数缺陷通常由电源对地短路和缺陷器件造成的。EL检测这些测缺陷板时,已经证明通常超过75%的检出率。当用EL作为有缺陷的电路板初次筛查,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。 返厂维修…