ZoomDetails

Optotherm Sentris Thermal Emission Microscope System

Thermal Emission microscope system Detail Next--LOCK IN THERMOGRAPHY Optotherm Sentris热发射显微镜系统 如何定位器件级失效的具体位置? Lock-in Thermography! 让失效分析变得更简单！ Next -APPLICATION ROOM 温度分辨率： 0.001℃ 几何分辨率： 5μm 最小功率: 5μW 最快定位时间：5S 简介 Optotherm,Inc 从2000年开始专注于红外显微系统的创新设计和制造公司，其拥有二十多年的红外显微系统的生产和校准经验，可以极大的确保其红外成像系统的高质量和高性能，Optotherm 专注于电子、半导体、MEMS等领域使用的微观红外热成像系统，Optotherm设计优化的微观透镜，具有非常高的空间分辨率，测量灵敏度和理想的的工作距离， 核心系统软件是其自主开发的，提供直观的用户界面，以及强大的功能。 ☎：4009-662-331 Leaderwe是一家专注于电子、半导体、材料等领域的分析检测设备供应的技术型公司，与Optotherm的合作始于2014年，并联合在深圳设立应用实验室，作为中国区总代理负责中国区的销售推广，技术支持，服务演示等相关工作。 📪：info@leaderwe.com var htmlDiv = document.getElementById("rs-plugin-settings-inline-css"); var htmlDivCss=""; if(htmlDiv) { htmlDiv.innerHTML = htmlDiv.innerHTML + htmlDivCss; }else{ var htmlDiv = document.createElement("div"); htmlDiv.innerHTML = "" + htmlDivCss…
1,Optotherm Thermal System
ZoomDetails

Optotherm EL Thermal Emission System

EL Thermal Imaging System for Circuit Board Troubleshooting 介绍 许多电路板的缺陷，不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测，以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷。例如以下的这些缺陷： 电源对地短路和低电阻短路 过压和边缘组件 有缺陷的BGA，VOC（压控振荡器）和去耦电容等 散热器失效 技术人员和工程师可能需要花很多时间去调试检测和测试电路板，而大多因为无法找出缺陷而只能选择报废。EL电路板故障诊断系统提供了一个可以定位这些缺陷的检测方法，使其成为常规分析检测方法之外的另一种选择。填补了常规检测和诊断技术之间的空白。 关于Optotherm相关产品在http://www.leaderwe.com/optotherm/有详细的描述，另建有应用实验室，欢迎大家送样测试。 EL是一种有效的和经济的工具，它可以降低检测成本和减少废料。对有故障的缺陷板进行初次筛查时，EL可以快速提供有用的故障排除信息，大大减少了维修时间。 OPTOTHERM PCBA FA DETECT  待测电路板                                                分析结果   故障诊断软件工具 热点探测定位短路位置 与正常电路板比较，来解决更复杂的缺陷问题 红外-可见光点对点融合叠加准确定位电路板上的缺陷 应用 产线返工 大量时间都花在测试从产线上退回来的板。技术人员使用从ICT，FCT等其他设备来识别缺陷，但往往很少能找出缺陷。缺陷的构成在制造中过程与在生产线的末端有太大的不同。在此阶段，大多数缺陷通常由电源对地短路和缺陷器件造成的。EL检测这些测缺陷板时，已经证明通常超过75％的检出率。当用EL作为有缺陷的电路板初次筛查，EL可以快速提供有用的故障排除信息，大大减少了维修时间。 返厂维修…
1,Optotherm Thermal System