Portfolio Archives: Optotherm Thermal System

Optotherm Sentris IC Thermal Emission Microscope System

Thermal Emission microscope system Detail Next--LOCK IN THERMOGRAPHY Optotherm Sentris热发射显微镜系统 如何定位器件级失效的具体位置? Lock-in Thermography! 让失效分析变得更简单！ Next -APPLICATION ROOM 温度分辨率： 0.001℃ 几何分辨率： 5μm 最小功率: 5μW 最快定位时间：5S 简介 Optotherm,Inc 从2000年开始专注于红外显微系统的创新设计和制造公司，其拥有二十多年的红外显微系统的生产和校准经验，可以极大的确保其红外成像系统的高质量和高性能，Optotherm 专注于电子、半导体、MEMS等领域使用的微观红外热成像系统，Optotherm设计优化的微观透镜，具有非常高的空间分辨率，测量灵敏度和理想的的工作距离， 核心系统软件是其自主开发的，提供直观的用户界面，以及强大的功能。 ☎：4009-662-331 Leaderwe是一家专注于电子、半导体、材料等领域的分析检测设备供应的技术型公司，与Optotherm的合作始于2014年，并联合在深圳设立应用实验室，作为中国区总代理负责中国区的销售推广，技术支持，服务演示等相关工作。 📪：info@leaderwe.com var htmlDiv = document.getElementById("rs-plugin-settings-inline-css"); var htmlDivCss=""; if(htmlDiv) { htmlDiv.innerHTML = htmlDiv.innerHTML + htmlDivCss; }else{ var htmlDiv = document.createElement("div"); htmlDiv.innerHTML = "" + htmlDivCss…

Optotherm Sentris PCB Thermal Emission System

Sentris PCB Optotherm Sentris PCB 电路板缺陷定位系统 介绍 许多PCB/FPC/SUBSTRATE电路板的缺陷，不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测，以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷。例如以下的这些缺陷： 电源对地短路和低电阻短路 CAF,IST HAST等可靠性性测试后的缺陷 离子迁移等 技术人员和工程师可能需要花很多时间去调试检测和测试电路板，而大多因为无法找出缺陷而只能选择报废。 Optotherm Sentris PCB 电路板缺陷定位系统提供了一个可以定位这些缺陷的检测方法，使其成为常规分析检测方法之外的另一种选择。填补了常规检测和诊断技术之间的空白。 关于Optotherm相关产品在http://www.leaderwe.com/optotherm/有详细的描述，另建有应用实验室，欢迎大家送样测试。 Sentris PCB是一种有效的和经济的工具，它可以大大缩短检测成本和检测时间。对有故障的缺陷板进行初次筛查时，Sentris PCB可以快速提供有用的故障排除信息，大大减少了定位时间。 OPTOTHERM PCBA FA DETECT  待测电路板                                                分析结果 部分案例： 1，手机板微短路 2PCB CAF 3.5G…